特點(diǎn)
將現(xiàn)代的光學(xué)測頭、機(jī)械式測頭及激光掃描測頭集成于同一臺三坐標(biāo)測量機(jī)上，綜合各種測頭的技術(shù)特點(diǎn)，可完成幾乎幾何測量任務(wù)。光學(xué)測頭主要是通過高精度CCD數(shù)字?jǐn)z像頭，將被測物體放大后，利用先進(jìn)的圖象信息處理技術(shù)，可編程控制光學(xué)照明技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對工件的自動掃描尋邊，表面點(diǎn)自動聚焦采集，自動測圓、自動對比。在對微小尺寸、薄片及刀口輪廓、易變形或不能接觸的工件，工件表面圖形、字符等方面的測量具有其優(yōu)越性。激光掃描測頭主要利用高精度的數(shù)控系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)在測量時對工件表面的自動跟蹤，用于對任意曲面的掃描測量。
性能參數(shù)
測量范圍： 400mm×200mm×200mm
允許工件重量：
玻璃工作臺20kg
示值誤差： E≤(2.5+L/200)μm
探測誤差： P≤2.8μm
探測系統(tǒng)： Renishaw接觸式測頭系統(tǒng)
CCD非接觸式測頭系統(tǒng)
激光掃描探測系統(tǒng)
長度測量系統(tǒng)： Renishaw精密光柵尺
分辨率: 0.1μm/0.5μm
物鏡： 高品質(zhì)測量物鏡
光源系統(tǒng)： 玻璃工作臺
高精度同軸平行底光源
頂光源（可選環(huán)形光源）
工作壓力： (0.4-0.6)MPa
使用環(huán)境： 溫度（20±2）℃
濕度55%-65%